利用ChipTester芯片测试仪可有效而且快速的完成。制作测试夹具,开发芯片测试程序，可以帮助客户制作各种不同封装，管脚数量较多的测试夹具，利用工程师多年的研发经验，快速的帮客户开发针对芯片各项参数的测试程序。批量测试方案...
先做一个对照表，存放所有要测试芯片的真值表再弄一个40脚的零插拔力插座，电路硬件上保证可以将任一个脚接电源或是接地，并可以检测任一脚上是高电平还是低电平。程序设计时按真值表加输入信号，测量输出就行了。
软核逻辑分析仪用于第二代系统阶段调试。软核逻辑分析仪用于第二代系统阶段调试可以捕捉目标芯片内部信号节点处的信息,而又不影响原硬件系统的正常工作。逻辑分析仪是属于数据域测试仪器中的一种总线分析仪，即以总线（多线）概...
经过一系列的研发，公司推出了第一代半导体芯片模拟测试仪CTA8200，以满足功率放大器，运算放大器和电机驱动模拟半导体芯片的电气性能参数测试需求。随后公司启动了第二代模拟/数字混合半导体芯片测试机的研发，并推出了CTA8280型号...
(1)先电源后测试——这是维修过程中的一项重要原则。即在使用测试仪进行测试前，应先检查电路芯片的工作电源，若电源短路，则在加电测试时可能会损坏仪器。(2)先测试后分析——就是对PCB板先进行测试，再依据测试结果进行...
第二代始于1969年，此时计算机的发展已达到适用于控制测试仪的程度，测试对象扩展到中规模集成电路，可测管脚数24个，不但能测试IC的直流参数，还可用低速图形测试IC的逻辑功能。这是一个飞跃。第三代始于1972年，这时的测量...
芯片越贵，DFT就越复杂越重要。DFT主要是通过在芯片中加入可测性逻辑，等芯片制造出来，在ATE（自动测试仪）设备上通过可测性逻辑对芯片进行测试，挑出有制造缺陷的芯片并淘汰掉，留下没有制造缺陷的好芯片。
模拟的或数字的或者这两者被集成在同一块芯片上。设计和开发一个复杂芯片的成本是相当高的，但是当分摊到通常百万个生产单位上，每个芯片的价格就是最小的。一个逻辑门包含20个晶体管，而2005年一个高级的微处理器使用的...
FIB：就是聚焦离子束，用来修改芯片逻辑实在太爽了。FIB的高手还可以帮你挖开二次铝修改底下的一次铝。探针台：这个你可以扎到你没有邦定的PAD上测试，配合使用FIB就更好了，可以测试电路内部几乎任意点的信号值。电镜扫描仪...
基于EEPROM存储器技术的可编程逻辑芯片能够重复编程100次以上,系统掉电后编程信息也不会丢失。编程方法分为在编程器上编程和用下载电缆编程。用下载电缆编程的器件,只要先将器件装焊在印刷电路板上,通过PC,SUN工作站、ATE(自动测试仪)...
2024/6/27